Notice: Function _load_textdomain_just_in_time was called incorrectly. Translation loading for the wpforms-lite domain was triggered too early. This is usually an indicator for some code in the plugin or theme running too early. Translations should be loaded at the init action or later. Please see Debugging in WordPress for more information. (This message was added in version 6.7.0.) in /home/metrovac/dev.metrovac.eu/wp-includes/functions.php on line 6121

Notice: A função _load_textdomain_just_in_time foi chamada incorrectamente. O carregamento da tradução para o domínio astra foi accionado demasiado cedo. Isto é normalmente um indicador de que algum código no plugin ou tema está a ser executado demasiado cedo. As traduções devem ser carregadas na acção init ou mais tarde. Por favor veja Depuração no WordPress para mais informações. (Esta mensagem foi adicionada na versão 6.7.0.) in /home/metrovac/dev.metrovac.eu/wp-includes/functions.php on line 6121

Warning: Trying to access array offset on value of type bool in /home/metrovac/dev.metrovac.eu/wp-content/plugins/site-offline/site-offline.php on line 50
XPS – Metrovac

Espectroscopia de foto-electrões de raios-X

O que é XPS?

A espectroscopia de foto-electrões de raios-X— XPS (X-Ray Photoelectron Spectroscopy) é uma técnica de análise química que fornece análise elementar e informação sobre ligações químicas. Praticamente não necessita de preparação da amostra e pode fornecer alguma informação em profundidade.

Em análises de XPS a amostra é colocada em ultra-alto vácuo e exposta a raios-X de baixa energia. A excitação induzida na amostra produz a emissão de foto-electrões das camadas interiores dos átomos da superfície. A energia desses electrões é característica do elemento de onde são emitidos. A área desses picos característicos é uma medida da abundância relativa do elemento respectivo, enquanto que a forma e a posição dos picos reflecte o estado químico de cada elemento.

Vantagens e limitações do XPS

  • Identificação do estado químico dos elementos da superfície
  • Identificação de todos os elementos com excepção do H e do He
  • Análise quantitativa
  • Aplicação a uma grande variedade de materiais incluindo amostras isoladoras
  • Limite de detecção típico de 0.1%at
  • Informação limitada em compostos orgânicos
  • Amostra tem de ser compatível com ultra-alto vácuo

Aplicações do XPS

  • Análise de superfícies de materiais orgânicos e inorgânicos
  • Determinação da composição e do estado químico de superfícies
  • Medidas do crescimento de filmes finos
  • Análise em profundidade de filmes finos
  • Biomédica e biotecnologia
  • Fotónica
  • Polímeros
  • Semicondutores
 

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