Notice: Function _load_textdomain_just_in_time was called incorrectly. Translation loading for the wpforms-lite domain was triggered too early. This is usually an indicator for some code in the plugin or theme running too early. Translations should be loaded at the init action or later. Please see Debugging in WordPress for more information. (This message was added in version 6.7.0.) in /home/metrovac/dev.metrovac.eu/wp-includes/functions.php on line 6121

Notice: A função _load_textdomain_just_in_time foi chamada incorrectamente. O carregamento da tradução para o domínio astra foi accionado demasiado cedo. Isto é normalmente um indicador de que algum código no plugin ou tema está a ser executado demasiado cedo. As traduções devem ser carregadas na acção init ou mais tarde. Por favor veja Depuração no WordPress para mais informações. (Esta mensagem foi adicionada na versão 6.7.0.) in /home/metrovac/dev.metrovac.eu/wp-includes/functions.php on line 6121

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TOF-SIMS – Metrovac

Tof - Sims

Pasted Graphic 3

Tof-SIMS

O que é SIMS?
A Espectrometria de Massa de Iões Secundários (Secondary Ion Mass Spectrometry) é uma espectrometria de massa de partículas ionizadas. Estas partículas são emitidas de superfícies sólidas sob bombardeamento de iões primários com muita energia. As partículas emitidas ou ‘secundárias’ são eletrões, átomos e moléculas neutros e iões atómicos e moleculares. Apesar da maioria das partículas secundárias serem neutras, são as os iões secundários que são analisados e detetados pelo espectrómetro de massa.

Tof-SIMS (Time-of-Flight SIMS)
Tof-SIMS é a combinação da técnica analítica SIMS com um tipo especial de analisador de massa e uma fonte de iões pulsada. O nosso Tof-SIMS é baseado num analisador do tipo Poschenreider.

As vantagens do Tof-SIMS sobre outras técnicas são as seguintes:

  • Deteção paralela de todos os iões com excelente resolução evitando a necessidade de se fazer um varrimento de massa.
  • Elevada transmissão, i.e., a razão do número de partículas detetadas pelo número de iões que entram no analisador é elevado.
  • Não tem limite de massa superior— pode ser usado para biomateriais, isoladores, polímeros, etc.
  • Alta sensibilidade (<1ppm para elementos) e consequentemente baixa taxa de degradação da amostra.

A principal limitação desta técnica é a de não ser facilmente quantitativa (apenas por comparação com materiais ou amostras de referência).

Modos de operação:

1 Static SIMS— aplicação de doses muito baixas de iões primários resultando numa análise quase não-destrutiva;

2 Imaging— Varrendo o feixe primário muito bem focado sobre a superfície é possível obter imagens resolvidas em massa de iões secundários (chemical images);

3 Análise em profundidade— SIMS dinâmico (depth profiling): com dose elevadas de iões primários é possível analisar camada por camada e obter a distribuição em profundidade da composição.

Materiais:

  • Semiconductores
  • Polímeros
  • Pinturas e revestimentos
  • Biomateriais
  • Medicamentos
  • Vidro
  • Papel
  • Metais
  • Cerâmicas

Objectivos:

  • Análise de fadiga
  • Controlo de qualidade
  • Desenvolvimento
  • Engenharia inversa
  • Investigação

Aplicações:

  • Contaminação
  • Aderência
  • Atrito
  • Propriedades superficiais
  • Corrosão
  • Difusão
  • Segregação
  • Bioquímica
  • Biocompatibilidade
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