análises

Visto que o METROVAC está integrado no Grupo de Ciência de Superfícies e Tecnologia de Vácuo, disponibilizamos também algumas análises de materiais por técnicas avançadas usadas rotineiramente em investigação científica.

Assim oferecemos à comunidade empresarial e a outros grupos de investigação, as seguintes análises:

• Espectrometria de massa de iões secundário por tempo-de-vôo (Tof-SIMS— Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry);
• Espectroscopia de foto-electrões (XPS— X-Ray Photoelectron Spectroscopy);
• Espectroscopia de electrões de Auger (AES— Auger Electron Spectroscopy).

Estas técnicas permitem a análise de amostras sólidas com excelente limite de detecção (Tof-SIMS), boa informação química (XPS), boa resolução lateral (AES e Tof-SIMS) e excepcional resolução em profundidade (Tof-SIMS). Também permitem o mapeamento da composição de uma amostra (Tof-SIMS e AES).